• elektron demetlerinin çok ince hazırlanmış bir örnekten geçirilerek çok yüksek magnifikasyonlarda görüntü alınmasını veya elektron kırınımı deneylerinin yapılmasını sağlayan cihaz.
  • geçirimli elektron mikroskobu (transmission electron microscopy-tem), malzemelerin atomik ölçeğe kadar araştırılmasında kullanılan çok yönlü bir metottur.

    günümüzde tem cihazları; görüntüleme teknikleri, kontrast mekanizmaları ve analitik araçlar olarak geniş bir yelpazede kullanıma sahiptir. numune geniş bir alanda aydınlatılırken optik malzemeler (lensler) ekranda, ccd kamerada ya da film üzerinde büyütülmüş görüntüyü elde etmek için kullanılır. faz nesnesinden kontrast elde edilmesi için görüntüleme sisteminin hafifçe flu (defocused) görüntülemesi gerekmektedir. böylece dedektörde numunenin biraz üstünde ya da altındaki elektron dalgalarının yoğunluğunun keskin bir görüntüsü elde edilir.

    bu cihaz ile analiz edilecek numunenin bağ yapısını ve uzunluğunu, katman sayısını, numune üstündeki bozulmaları (defect) tespit edebilirsiniz.
  • malzeme, kristalografi, nanoteknoloji gibi alanların dahil olduğu çalışmaların vazgeçilmezlerinden olan cihaz. bulunduğu merkezin/fakültenin de göz bebeğidir.* çalışma prensibini, altında yatan fizik ve mikroskopi temelini anlamak da ziyadesiyle yorucudur. her ne kadar internette zilyon tane kaynak olsa da temel malzeme bilgisi, kristal yapılar, optik gibi konularda biraz temel oturtmadan pek de kafaya girmiyor efendim.

    şimdiye kadar denk geldiğim en anlaşılır kaynak da "a practical guide to transmission electron microscopy, zhiping luo " volume ı ve ıı.

    görsel anlamda da destek olması açısından tem simulator bence fazlasıyla iyi.
hesabın var mı? giriş yap